受激發射損耗顯微鏡（Stimulated emission depletion microscope）是第一個用來突破衍射極限的遠場光學顯微技術。STED采用兩束組合激光，一束激光被聚焦成正常的衍射極限焦斑，使焦斑內的熒光分子處于激發態；另一束是中心光強為零成環形焦斑的損耗光，兩束光進行疊加，損耗光通過受激發射過程損耗周邊區域內的激發態熒光分子。因此，周邊區域內的熒光分子被損耗，只剩下中心的熒光發光點，從而實現小于衍射極限的熒光發射面積。受激發射損耗超高分辨率共聚焦顯微鏡 xy分辨率≤50nm，z軸分辨率≤130nm。目前，STED技術已經被廣泛用于神經生物學、病毒學和細胞生物學等研究領域。

培訓儀器：激光共聚焦顯微鏡Leica SP8 gSTED 3X

培訓內容：STED超高分辨共聚焦顯微鏡的原理、應用及樣品制備方法。

培訓時間：2021年12月17日（周五）9:30-17:00

培訓日程：線上培訓--騰訊會議 9:30-11:30；上機培訓--清華大學醫學科學樓C119（A組13:30-15:0；B組15:15-16:45）

主講人：劉繼紅 Leica資深應用工程師

聯系方式：孫老師 sunyue#mail.tsinghua.edu.cn（發送郵件時請將“#”替換成“@”）

報名方式：

訪問鏈接：http://sapphireking.mikecrm.com/MJkj579

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備注：

1. 報名截止時間12月16日 16:00。

2. 線上講座校內外人員均可報名參加；由于疫情原因，上機培訓每組限5人，僅限清華校內師生參加，歡迎自帶樣品進行測試。

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