受激發射損耗顯微鏡（Stimulated emission depletion microscope）是第一個用來突破衍射極限的遠場光學顯微技術。STED采用兩束組合激光，一束激光被聚焦成正常的衍射極限焦斑，使焦斑內的熒光分子處于激發態；另一束是中心光強為零成環形焦斑的損耗光，兩束光進行疊加，損耗光通過受激發射過程損耗周邊區域內的激發態熒光分子。因此，周邊區域內的熒光分子被損耗，只剩下中心的熒光發光點，從而實現小于衍射極限的熒光發射面積。受激發射損耗超高分辨率共聚焦顯微鏡 xy分辨率≤50nm，z軸分辨率≤ 130nm。目前，STED技術已經被廣泛用于神經生物學、病毒學和細胞生物學等研究領域。

培訓儀器：激光共聚焦顯微鏡Leica SP8 STED 3X

培訓內容：STED原理、激光共聚焦顯微鏡及STED超高模塊上機操作。

培訓時間：2023年11月2日（周四）9:30-11:30

培訓地點：清華大學醫學科學樓C119

聯系方式：孫老師 sunyue#mail.tsinghua.edu.cn  （發送郵件時請將“#”替換成“@”）

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2. 本次培訓收取機時費，2位及以上同學報名參加本次培訓，每人收取50%機時費。未取消報名的用戶，正常收取培訓費用。

3. 本學期將根據不同的實驗類型提供多次小型上機培訓。用戶自帶樣品，根據現場情況可以針對樣品直接培訓。實驗室組團培訓，可以聯系我們定制培訓時間及內容。

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