細胞生物學平臺線上專題講座受激發射損耗顯微鏡的應用和樣品制備
2020/05/13
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受激發射損耗顯微鏡（Stimulated emission depletion microscope）是第一個用來突破衍射極限的遠場光學顯微技術。STED采用兩束組合激光，一束激光被聚焦成正常的衍射極限焦斑，使焦斑內的熒光分子處于激發態；另一束是中心光強為零成環形焦斑的損耗光，兩束光進行疊加，損耗光通過受激發射過程損耗周邊區域內的激發態熒光分子。因此，周邊區域內的熒光分子被損耗，只剩下中心的熒光發光點，從而實現小于衍射極限的熒光發射面積。受激發射損耗超高分辨率共聚焦顯微鏡 xy分辨率≤50nm，z軸分辨率≤ 130nm。目前，STED技術已經被廣泛用于神經生物學、病毒學和細胞生物學等研究領域。
講座內容：1、STED受激發射損耗顯微鏡原理；2、STED染料的選擇和樣品的制備；3、影響STED成像結果的因素及其使用注意事項；4、STED應用案列。
特邀主講人：TimWinter 工程師 齊冬
主持人：細胞生物學平臺工程師 孫悅
講座時間：2020年5月21日（周四）9:30-11:00（報名截止時間5月20日12:00）
講座方式：線上講座-騰訊會議
聯系方式：sunyue@tsinghua.edu.cn 孫老師
報名方式：
或掃描二維碼：
注：5月20日下午通過郵箱發送講座鏈接。
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