受激發射損耗顯微鏡（Stimulated emission depletion microscope）是第一個用來突破衍射極限的遠場光學顯微技術。STED采用兩束組合激光，一束激光被聚焦成正常的衍射極限焦斑，使焦斑內的熒光分子處于激發態；另一束是中心光強為零成環形焦斑的損耗光，兩束光進行疊加，損耗光通過受激發射過程損耗周邊區域內的激發態熒光分子。因此，周邊區域內的熒光分子被損耗，只剩下中心的熒光發光點，從而實現小于衍射極限的熒光發射面積。受激發射損耗超高分辨率共聚焦顯微鏡 xy分辨率≤50nm，z軸分辨率≤130nm。目前，STED技術已經被廣泛用于神經生物學、病毒學和細胞生物學等研究領域。

培訓儀器：超高分辨激光共聚焦顯微鏡Leica SP8 STED

培訓內容：STED原理和應用；Leica SP8 STED超高分辨激光共聚焦顯微鏡上機操作。

主講人：細胞生物學平臺工程師 孫悅

培訓方式：分為理論和上機兩個部分。

理論培訓內容：STED原理和應用，主要圖像采集參數介紹。

理論培訓時間：2020年12月30日（周三）14:00-15:00（線上培訓-騰訊會議，限30人，優先清華校內學生和工作人員，參加上機培訓的同學必須進行線上培訓并簽到。）

上機培訓時間：2020年12月31日（周四）9:00-11:00

上機培訓地點：清華大學醫學科學樓C119（由于疫情原因，目前只限清華校內報名，限5人。）

聯系方式：孫老師 sunyue#mail.tsinghua.edu.cn（發送郵件時請將地址中的“#”替換成“@”）

報名方式：

使用鏈接：http://sapphireking.mikecrm.com/qrSeacw

或掃描二維碼：

注：報名截止時間12月29日16:00，報名截止后通過郵件發送培訓鏈接。

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