受激發射損耗顯微鏡（Stimulated emission depletion microscope）是第一個用來突破衍射極限的遠場光學顯微技術。STED采用兩束組合激光，一束激光被聚焦成正常的衍射極限焦斑，使焦斑內的熒光分子處于激發態；另一束是中心光強為零成環形焦斑的損耗光，兩束光進行疊加，損耗光通過受激發射過程損耗周邊區域內的激發態熒光分子。因此，周邊區域內的熒光分子被損耗，只剩下中心的熒光發光點，從而實現小于衍射極限的熒光發射面積。受激發射損耗超高分辨率共聚焦顯微鏡 xy分辨率≤50nm，z軸分辨率≤ 130nm。目前，STED技術已經被廣泛用于神經生物學、病毒學和細胞生物學等研究領域。

培訓內容：1、STED受激發射損耗顯微鏡原理；2、STED染料的選擇和樣品的制備；3、影響STED成像結果的因素及其使用注意事項；4、STED應用案列。

主講人：Leica 資深應用工程師 劉繼紅

培訓時間：

理論培訓：2021年4月23日（周五） 9:30-11:00

上機操作：A組：2021年4月23日（周五）13:15-15:00；B組：2021年4月23日（周五）15:30-17:15

培訓地點：

理論培訓：清華大學生物技術館2201會議室

上機操作：清華大學醫學科學樓C119

聯系郵箱：孫老師 sunyue#mail.tsinghua.edu.cn（發送郵件時請將地址中的“#”替換成“@”）

報名方式：

訪問鏈接：http://sapphireking.mikecrm.com/fIB5EfF

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備注：

1、本次培訓提供午餐，可以以實驗室為單位報名參加，歡迎攜帶實驗樣品。

2、報名截止時間4月22日12:00，校外人員需在報名截止時間前通過郵件聯系工作人員申請入校。

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